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可控硅测试仪

   日期:2024-10-31     浏览:0    
 可控硅测试仪主要技术参数:  
触发输出:六路双脉冲列  
脉冲宽度:>1.6ms  
脉冲峰值:>800mA  
各项脉冲不均匀度:≤1°  
移相范围:0-170°  
输入控制电压:DC0~10V或电位器  
输入控制电流:DC4~20mA  
脉冲封锁信号:>5V  
外形尺寸:200x192X60mm  
整机重量:1.0kg  
可控硅测试仪适用于三相桥式半控、三相桥式全控或带平衡电抗器的双反星形可控整流电路。也适用于可控硅反并联式三相交流调压线路(如用于电加热装置等)。  
可控硅调控器主要技术参数:  
触发输出:宽脉冲列  
脉冲宽度:180°-α  
脉冲峰值:>500mA  
脉冲列调制频率:10KHz  
移相范围:0-170°  
调节特性:恒流、恒压精度1%  
反馈信号输入  
反馈电压:直流15V,内阻6KΩ。  
交流110V,内阻50KΩ。  
反馈电流:75mV分流器,内阻1Ω。  
交流110mA,内阻1Ω。  
输入控制信号:DC0-10V或电位器  
外形尺寸:175X143X60mm  
整机重量:0.8kg  
可控硅调控器适用于单相全波、单相半控桥整流电路和可控硅反并联(或双向可控硅)的单向交流调压电路。
http://www.lycnjd.com/Products-27917761.html
https://www.chem17.com/st204630/product_27917761.html
 
原文链接:http://www.zgsh.org.cn/hq/11145.html,转载和复制请保留此链接。
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