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OCSX-射线粒子扫描仪(XP7)能检测出高度透明和不透明颗粒中的金属缺陷，从而提高聚合物的产品质量。XP7测量系统中创新的X射线技术可实时分析粒子流的图像。由于金属和聚合物对X射线的吸收不同，嵌入的50微米以上的金属颗粒可被检测出来。缺陷颗粒被一个多轨道空气喷嘴系统分拣出来。
可测试的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
X-射线粒子扫描仪(XP7)特点
■高分辨率的X射线图像
■处理量可达600公斤/小时,根据具体材料性能差异而不同
■符合设备全面保护的技术要求
■结果实时可视化显示
■用于分拣缺陷颗粒的多轨道空气喷嘴系统
对于粒子金属杂质检测，以下是一些常见的方法：
1. 化学分析法：通过化学反应将金属杂质转化为可测量的物质，然后使用各种分析方法（如重量法、滴定法、光谱法等）进行测量。这种方法可以测量出杂质元素的含量，但是操作复杂，需要专业人员操作，且无法测量非金属杂质。
2. 物理法：利用金属杂质与粒子的物理性质（如导电性、磁性、密度等）的差异进行分离。常见的有电选、磁选、浮选等。这种方法可以去除大部分金属杂质，但是对于非金属杂质则无法去除。
3. 仪器分析法：利用各种高精度的仪器对粒子中的金属杂质进行检测。如原子吸收光谱仪、原子荧光光谱仪、电感耦合等离子体光谱仪等。这些仪器可以快速准确地测量出杂质元素的含量，但是价格昂贵，需要专业人员操作。
粒子金属杂质检测
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