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扫描电子显微镜(SEM)
设备型号：
FEIQuanta200EnvironmentalScanningElectronMicroscope
电镜测试功能：
1.表面形貌：提供高分辨率的表面形貌图像，观察样品表面的形貌、纹理和形状。
2.粒度分析：分析样品中的粒度，包括颗粒的大小、形状和分布。
3.拓扑结构：显示样品拓扑结构，如裂纹、凹凸、孔隙。
4.腐蚀和磨损分析：观察样品表面的腐蚀、磨损，分析样品耐磨性。
5.相分布：在多相材料中，SEM可以用于观察不同相之间的分布和界面。
6.涂层和薄膜分析：分析涂层、薄膜的厚度、均匀性和附着性。
7.半导体器件分析：研究和检查集成电路、晶体管和其他半导体器件的结构
于艾博纳电镜（SEM）测试的样品要求：
1.样品尺寸：一般试样取样直径最好在25mm以内，最大高度10mm以内。
2.ESEM、冷冻及加热试件因可视范围之限制，取样直径限制在2mm以内，最大高度2mm以内，底部要平整，试件请自行提前处理。
3.固体样品保证干燥，并且表面平整和干净。
4.样品应在高真空环境下稳定，不应有显著的气体释放或化学变化。
5.避免样品表面有尘埃、油污或其他污染物。
电镜
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