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大展 高温差热分析仪

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  • 发布日期:2025-02-17 09:00
  • 有效期至:长期有效
  • 商机区域:全国
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详细说明
   DZ3332高温差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
  DZ3332高温差热分析仪特点:
  1.仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更。
  2.采用USB双向通讯,操作更便捷。
  3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,界面更友好。
  4.采用铂铑合金传感器,更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。
  技术参数:
  1.温度范围:室温~1350℃
  2.量程范围:0~±2000μV
  3.DTA精度:0.01μV
  4.升温速率:1~80℃/min
  5.温度分辨率:0.1℃
  6.温度准确度:±0.1℃
  7.温度重复性:±0.1℃
  8.温度控制:升温:程序控制可根据需要进行参数的调整
  恒温:程序控制恒温时间任意设定
  9.炉体结构:炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
  10.气氛控制:内部程序自动切换
  11.数据接口:标准USB接口配套数据线和操作软件
  12.显示方式:24bit色,7寸LCD触摸屏显示
  13.参数标准:配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正
  14.基线调整:用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
  15.工作电源:AC 220V 50Hz
  更多详情请咨询:http://www.njdzjcyq.com/Products-35335856.html
  https://www.chem17.com/st464838/product_35335856.html
原文链接:http://www.zgsh.org.cn/shangj/36809.html,转载和复制请保留此链接。
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